简介： 本发明公开了一种基于差分进化算法和等效平面法的混联结构系统一次二阶矩可靠性分析方法。对于含有m个串联子单元，其中第i个串联子单元包含ni(i＝1,…,m,ni≥1)个元件以独立形式或并联形式(ni≥2)连接的混联结构系统，使用基于差分进化算法的一次二阶矩法计算各串联子单元的最可能失效点和可靠性指标；然后，以等效平面法计算混联结构系统可靠度。本发明在机械电子、航空航天和土木工程等领域混联结构系统可靠度分析中有很好的通用性，能适应各类非线性问题，一阶精度高，扩展了差分进化群智能优化算法在混联结构系统可靠度上的适用范围，对可靠性分析领域有重要的意义。