简介： 本发明提出一种采样远场方向图诊断阵列天线失效阵元的方法，它的具体步骤是：把阵列天线中阵元的工作状态分为工作和不工作两种状态，并对此状态进行使用遗传基因算法(GA)进行编码，并建立目标函数表征不同编码状态下计算所得的方向图与测量所得的方向图之间的差距。并使用GA算法优化目标函数达到最小值。也就是不同阵元工作状态配置下计算所得方向图与测量所得方向图差距最小的情况。并通过在计算中利用提取到的阵列的S参数加入到阵列方向图的计算中，把互耦效应的影响考虑进去。提高诊断的成功率。