简介： 本发明公开了一种ATE快速获取存储器失效地址的方法，扫瞄整个失效位抓取RAM时，不再从起始地址开始读，而是先从矢量RAM中读取第一个失效周期,获取该失效周期指向的地址引脚状态，构造以字符表示的地址引脚状态与以数值表示的引脚状态的对应关系，然后将第一个失效周期对应的地址引脚状态转换成16进制行地址和列地址，将该行地址和列地址作为扫瞄整个失效位抓取RAM的起始地址。本发明能够合理使用ATE所存在的硬件资源，优化获取失效地址的方法，减少测试时间。