简介： 本发明提供了一种发光二极管早期失效的筛选方法，涉及发光二极管应用技术领域，解决了现有单一试验无法有效筛选出发光二极管不良的技术问题。该方法在抽取样品后进行回流焊实验、波峰焊实验、高温实验、温度冲击实验和高温水煮实验中的至少两项筛选实验，再检测筛选不良品。对样品进行回流焊实验、波峰焊实验、高温实验、温度冲击实验和高温水煮实验中的至少两项筛选实验，与传统的仅进行单一筛选实验的方法相比，通过至少两项筛选实验使发光二极管的早期失效问题明显地暴露出来，以便更有效地筛选出不良品，隐避缺陷也能很好地筛选出，提高发光二极管重大隐蔽性质量缺陷的筛选不良检出率，提高了电器产品的整体质量和可靠性，降低了售后维修率。