简介： 本发明公开了一种比特失效模式统计方法及装置，将获取的待处理存储器芯片单元的比特失效的原始数据利用Perl脚本进行分析和计算，不仅极大的降低了生产成本，又能够快速的统计出每批产品的比特失效模式结果，从而直观的展现出何种比特失效模式对产品的良率有着较大的影响，也就能够直指工艺缺陷，有利于有目的的改善制造工艺。