简介： 本发明公开一种解决芯片失效故障的方法,其包括:主CPU利用从CPU的空闲时间定时向从CPU发起业务功能检测的测试消息请求,通知从CPU进行指定通道或话路的正常性测试;从CPU收到该测试消息请求后调用其内正常运行的程序模块进行环回测试,判断测试结果的正确性;从CPU测试完成后,根据测试结果向主CPU回复一条测试响应消息;主CPU根据测试响应消息进行相应处理,如果测试结果为正确,则不对该从CPU的话路分配做任何改动;如果测试结果为错误或等待测试响应消息超时,则主CPU将从CPU的所有话路分配的优先级降低。通过采用该方法,可以提前发现故障隐患,确保了整个系统的可靠性和稳定性。