简介： 本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种快速判定DDR芯片失效的装置，以便对取下的DDR芯片能快速有效判定是否失效。本实用新型包括用于和DDR进行读写操作的MCU、用于存储DDR设置参数的FLASH、用于DDR芯片电接入并固定DDR芯片的DDR测试插座、串行数据通信接口以及人机交互装置；所述MCU分别与所述FLASH、DDR测试插座、串行数据通信接口电连接，所述串行数据通信接口与所述人机交互装置电连接。在使用时，可将该DDR芯片放入DDR测试插座，MCU按DDR芯片的规格参数，对DDR进行读写操作，如读写操作正常，表示该芯片正确，如反馈错误，表示该芯片失效，进而起到快速判定的目的。本实用新型适用于DDR芯片失效检测。