简介： 本发明是一种陶瓷电容失效的防护方法,涉及电子设备中陶瓷电容领域,其包括电容筛选、电装加工、三防处理、环境试验,所述的电容筛选过程包括:(1)外观初查;(2)温度循环:将所述合格电容先后置于-55℃和85℃的高低温箱内,分别保持30min,交替循环五次;(3)高温老化:将上述(2)步骤中温度循环过的电容置于85℃的高低温箱内保持48h,通过实时检测电容的漏电流值,判断出电容是否存在裂纹;(4)常温终测:常温下检测电容的漏电流值、耐压值、容值;(5)外观复查。它解决了现有技术中存在的陶瓷电容失效的问题,主要应用于电子设备中陶瓷电容的防护。