嵌入式存储芯片打线导致芯片失效的解决方法
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嵌入式存储芯片打线导致芯片失效的解决方法
来源:北方有色网
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简介: 本发明公开了一种嵌入式存储芯片打线导致芯片失效的解决方法,包括主控芯片,主控芯片上设置有efuse模块;包括以下步骤:检测efuse PIN是否有效,若是,读取efuse前64bit数据,并检测efuse内有无数据或者第一、第二份数据均错,若无数据或者第一、第二份数据均错,跳过NAND BOOT进入EP0 INIT,进入主控芯片主循环;否,则读取ROM的pad配置表;若有数据或第一、第二份数据无错,则找到正确配置信息;若配置信息正确则根据efuse信息配置管脚,若配置信息不正确且efuse有数据且三份均为错,读取ROM的pad配置表;进入pad配置流程,进行NAND BOOT;进入主控芯片主循环;进入vendor efuse编程命令流程和等待host命令;有效解决嵌入式存储芯片打线偏差导致芯片失效,需重新定义芯片管脚功能的难题。
本发明公开了一种嵌入式存储芯片打线导致芯片失效的解决方法,包括主控芯片,主控芯片上设置有efuse模块;包括以下步骤:检测efuse PIN是否有效,若是,读取efuse前64bit数据,并检测efuse内有无数据或者第一、第二份数据均错,若无数据或者第一、第二份数据均错,跳过NAND BOOT进入EP0 INIT,进入主控芯片主循环;否,则读取ROM的pad配置表;若有数据或第一、第二份数据无错,则找到正确配置信息;若配置信息正确则根据efuse信息配置管脚,若配置信息不正确且efuse有数据且三份均为错,读取ROM的pad配置表;进入pad配置流程,进行NAND BOOT;进入主控芯片主循环;进入vendor efuse编程命令流程和等待host命令;有效解决嵌入式存储芯片打线偏差导致芯片失效,需重新定义芯片管脚功能的难题。
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标签:失效分析
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