简介： 本发明公开了一种电子元器件失效原因定位方法，包括以下步骤：构建所述电子元器件的故障树；利用故障树到贝叶斯网络之间的映射方法，将故障树映射为贝叶斯网络；将失效分析案例按照贝叶斯网络的节点进行梳理，得到各个节点的案例统计信息；利用各个节点的案例统计信息，计算各个节点对应的后验概率；通过所述电子元器件的失效现象找到后验概率最大的节点对应的失效原因。本发明能够直观地得到造成失效现象的各个原因的发生概率，准确地对失效现象进行原因定位，提高失效分析的效率和准确性。