简介： 一种解决存储器局部失效的方法,是通过逻辑IC或ASIC芯片本身的逻辑电路对存储器以缓冲区为单位进行自检,如果该缓冲区的所有存储单元的自检结果是全部正常,则在自检结束后将其首地址写入空闲缓冲区队列中,供以后使用该缓冲区;如果检测到某个缓冲区有失效的存储单元,则其首地址将不被写入空闲缓冲区队列中,使该缓冲区在逻辑IC或ASIC芯片的正常工作中将永远不会被访问;在自检的同时,还对失效缓冲区进行计数,并在自检结束后,读取该计数值及根据失效缓冲区的多少作相应处理:当失效缓冲区没有或很少,对系统功能或性能影响很小时,该单板可照常工作;当失效缓冲区的数目较大时,才向系统发出告警信号请求维修或更换单板。