简介： 本发明提供一种基于失效物理的智能变电站二次系统可靠性评估方法，对继电器、光耦、光纤和CPU芯片进行失效模式、潜在失效机理分析；考虑时间‑应力与器件固有参数之间的关系，建立各种失效机理的失效物理模型，获得器件在各种失效模式下的失效寿命函数；建立各种失效机理下失效时间的分布模型，构造描述失效时间的概率密度函数；根据器件失效机理的概率密度函数和累计失效分布函数，计算器件该失效机理的即时失效率；根据各器件失效率函数，构建智能变电站二次系统可靠性模型，评估智能变电站二次系统可靠性；评估结果将为智能变电站二次设备的检修工作提供参考，有利于智能变电站的安全稳定运行。