简介： 本发明公开了一种写失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质，接收外部的测试机发送的替换指令和校验数据；将目标存储芯片内的数据与校验数据相比较，判断失效的cell；对比较得到的失效的cell进行分析和判别；执行替换指令，依次对失效的cell进行替换。将替换指令执行的操作交由存储芯片主控来完成，测试机在这个过程中只需要负责发送校验数据和替换指令，以及判断执行结果和固化替换信息，因此测试机在测试过程中的计算量大大减小，相应减小了测试时间，对于需要同步测试多个存储芯片的测试机来说，测试方的设备要求降低。