简介： 本发明涉及一种芯片失效定位方法,其步骤如下:首先,确定失效的电性测试项目;其次,在MCU中编辑相应的代码;最后,通过MCU发送相应的信号模式至待分析的芯片。本发明所述芯片失效定位的方法,不但简单,而且速度更快,用户操作时的准确度和速度都大大提高,由于利用MCU作为信号发生器,所以可以发送任意所需信号,模拟芯片工作时的各个状态,从而可以测试分析芯片的任意失效项目。