简介： 本申请公开了一种芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质，从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息，根据所述测试信息对所述目标芯片的测试过程进行分析。本方案中，由于该测试信息是永久保存于芯片内部，不易失效，方便了对芯片测试过程的追溯，从而节省了巨大的人力成本和时间成本，满足了客户要求。