简介： 本发明属于电子技术领域，具体涉及一种热点分析的方法和系统，包括：S1：将一失效芯片设置在一热点分析设备使用的测试板上，并通过单片机推送一测试程序到所述失效芯片中，通过一示波器捕捉波形比对一自动测试设备波形，确认所述失效芯片正常运行的测试程序；S2：通过所述热点分析设备对所述失效芯片进行一热点分析。有益效果：实现了对失效芯片产品在自动测试状态下进行热点分析，提高了产品的检出率，有效改善了芯片产品的生产质量。