简介： 本发明公开了一种监测发光环境障碍涂层失效状况的方法,首先对发光环境障碍涂层进行荧光成像,若在荧光成像图像中存在黑色区域,则判断发光环境障碍涂层存在开裂或剥落区域,已经发生了结构宏观失效,否则分别测量未受腐蚀的和待监测的发光环境障碍涂层在特定激发波长下的荧光光谱,并分别计算两种光谱中对应于激活离子电偶极跃迁的强度最大的特征峰和对应于激活离子磁偶极跃迁的强度最大的特征峰之间的强度比,并计算强度比的变化值,若其绝对值≥20%,则判断发光环境障碍涂层发生了结构衰变。本方法灵敏度高,具有广泛的适用对象和使用环境。