简介： 本发明公开了一种预报集成电路负偏压不稳定性失效的测试电路。主要包括测量管(3),恒流偏置电路,电压参考电路,滞回比较器电路,双向开关电路,开关管(12)。该测量管(3)用于测量阈值电压漂移,该恒流偏置电路给测量管(3)提供恒流偏置,该电压参考电路给滞回比较器提供参考电压,双向开关电路使测量管(3)在退化与测试之间进行切换。退化期间,该开关管(12)关闭滞回比较器、恒流偏置电路和电压参考电路,以减小功耗;测试时,开关管(12)开启滞回比较器、恒流偏置电路和电压参考电路,当测量管源漏电压大于参考电压,滞回比较器输出高电平,预示着集成电路即将失效。本发明可用于对负偏压不稳定性效应失效的预报。