简介： 本发明提供了一种嵌入式闪存的失效测试方法，包括：步骤一：提供一嵌入式闪存，所述嵌入式闪存包括一存储单元阵列，所述存储单元阵列包括多条字线和与所述字线交叉设置的多条位线；以及步骤二：逐个测试所述存储单元阵列的一条对角线上的每个存储单元。采用上述嵌入式闪存的失效测试方法，只需要测试存储单元阵列对角线上的存储单元，就可以测试到所有的字线和位线的组合了。相对于现有技术来说，可以有效减少测试时间，从而实现了提高测试效率降低测试成本的目的。