简介： 一种测试图样产生方法以及一种失效模型产生方法，该测试图样产生方法用以产生电路测试所用的测试图样，包含：(a)计算一元件数据库中的多个元件对应不同缺陷的多个信号延迟值；(b)比较信号延迟值以及一目标电路的信号路径延迟信息来产生一失效模型；以及(c)根据该失效模型产生至少一测试图样。