简介:
本发明公开了一种结合实体坐标的位失效侦测方法,在此方法中先取得一晶圆对位检测数据,其包括一晶圆内每一层的缺陷的影像和此缺陷的实体坐标;然后,进行一位失效侦测步骤,以得到晶圆内失效位的数字坐标,并转换此数字坐标为实体位置,且将实体位置重叠于实体坐标,以便快速得到失效位与缺陷之间的关联性。
本发明公开了一种结合实体坐标的位失效侦测方法,在此方法中先取得一晶圆对位检测数据,其包括一晶圆内每一层的缺陷的影像和此缺陷的实体坐标;然后,进行一位失效侦测步骤,以得到晶圆内失效位的数字坐标,并转换此数字坐标为实体位置,且将实体位置重叠于实体坐标,以便快速得到失效位与缺陷之间的关联性。