简介： 本发明提供一种纯锡镀层元器件锡须生长失效预测方法与系统，获取纯锡镀层元器件中锡须生长长度对数均值、对数标准差、锡须生长面密度均值以及面密度标准差数据，拟合出多项式拟合公式，计算锡须面密度均值、标准差、锡须生长长度对数均值以及对数标准差，分别进行第一次和第二次蒙特卡罗运算分析，得到锡须长度数据，根据锡须长度数据和预设失效判据，计数每组面密度中引起短路失效的锡须根数，计算待预测纯锡镀层元器件中引脚对的锡须生长失效率。整个过程中，从失效物理的角度，分别考虑锡须生长的面密度和长度值，并基于蒙特卡罗算法，分别进行迭代运算，兼顾锡须生长的失效物理因素，能对各类纯锡镀层元器件中锡须生长失效进行快速、准确预测。