简介： 一种基于ICT和FCT的软失效预测方法，包括以下步骤：步骤S1、从产品的ICT和FCT测试项目中筛选出重点关注测试项目；收集因重点关注测试项目相关问题而被客退的产品的ICT和FCT测试数据，从而组成非正常数据集；步骤S2、根据所述被客退的产品的生产时间，获取同一批次但未被客退的产品的ICT和FCT测试数据，从而组成正常数据集；步骤S3、基于非正常数据集和正常数据集，构建用于根据产品的ICT和FCT测试数据预判产品是否存在软失效的软失效预测模型；步骤S4、根据软失效预测模型，实时分析产品的ICT和FCT测试数据，从而预测产品是否存在软失效。本发明的软失效预测方法设计新颖，实用性强。