简介： 本发明公开了一种基于SOC ATE定位存储器失效位的方法及测试系统，包括：生成测试向量；将测试向量转化成物理波形信号；将物理波形信号输入至待测芯片中进行测试；将测试得到的结果(引脚pass‑fail信息)以字符形式按行存储至RAM中；ATE从RAM中读取各失效向量所指的失效位的数据引脚状态和相对应的地址引脚状态；构造以字符表示的引脚状态与以数值表示的引脚状态的对应关系；将各失效位的地址引脚状态和数据引脚状态由字符形式转换为数值形式输出。本发明在不增加硬件资源的基础上将基于SOC ATE的向量模式测试得到的字符数据快速转换为数值数据，方便地对存储器进行失效定位和失效分析，提高利用SOC ATE开发存储器测试程序的效率。