简介： 本发明提供一种测试失效原因分类方法和系统、电子设备、存储介质，可应用于人工智能领域、区块链领域、分布式领域、云计算领域、大数据领域、物联网领域、移动互联领域、网络安全领域、芯片领域、虚拟现实领域、增强现实领域、全息技术领域、量子计算领域、量子通信领域、量子测量领域、数字孪生领域或金融领域。该方法包括：获取测试失效的分析信息；对测试失效的分析信息，进行文本分词，得到失效分词信息；对失效分词信息计算特征向量权值；依据特征向量权值输入至原因分类模型进行分类，得到分析信息对应的失败原因；实现测试的失效原因进行自动分类，便于后续的处理和查询。