简介： 一种基于失效物理的中频对数放大器的寿命预测方法，它有六大步骤：一、对中频对数放大器类电子产品失效模型的失效信息以及产品结构工艺的器件信息进行分析，确定潜在的失效机理及其失效物理模型；二、确定影响失效机理的环境应力；三、通过加速老化试验修正推导后的失效物理模型中涉及的相关参数；四、借助环境应力传感器对产品经历的寿命周期内的环境应力进行监测和记录；五、利用已经确定的失效物理模型，计算不同应力水平下的预计失效前时间即TTF，根据损伤定义，分别计算产品在每个应力水平下由于不同失效机理而造成的寿命损伤；六、对不同失效机理下的产品剩余寿命进行预测，并对中频对数放大器进行可靠性分析，得出其失效率和可靠度。