简介： 本发明提供了一种用于LED失效检测的研磨件，包括主体；主体具有在竖直方向上相正对设置的研磨面和观察面；在研磨面上设置有若干个凸起，凸起为棱锥结构或三棱柱结构；在凸起为棱锥结构时，每一个凸起的底面位于上方，每一个凸起的尖端朝向下方且每一个凸起的尖端上设置有研磨粒，每一个凸起的侧面为倾斜面；在凸起为三棱柱结构时，每一个凸起的其中一个侧面位于上方，每一个凸起的其余侧面为倾斜面，每一个凸起的其中一条棱朝向下方且每一条位于最下方的棱上设置有研磨粒；每一个倾斜面至观察面之间至少存在一条沿竖向布置的透光通道，透光通道中充满折射介质。该研磨件可供外部的设备在研磨件使用时对研磨面下的LED芯片表面进行实时观察，具有良好的实用性。