简介： 8mm基片集成波导环行器失效率检测方法，涉及微波器件技术领域。本发明包括下述步骤：1)确定SIW结构失效率λG1：2)确定金属通孔失效率λG2：3)确定SIW转微带失效率λG3：4)确定铁氧体圆柱失效率λG4：5)确定永磁体失效率λG5；6)以下式确定环行器整体失效率λsp：λsp＝λG1+λG2+λG3+λG4+λG5本发明的有益效果是：检测结果可靠，适用范围广。