简介： 本发明公开了一种可控硅失效检测与保护方法,包括以下步骤:中央处理器检测电源过零信号是否发生跳变;当可控硅的电压在过零信号发生跳变后一直小于0.5V或者一直大于4.8V时,对可控硅做开路标记;当可控硅的电压在过零信号发生跳变后一直处于2.5V至4.0V之间时,对可控硅做短路标记;中央处理器对可控硅运行可控硅保护程序。本发明还公开了一种可控硅失效检测与保护装置。本发明所提供的可控硅失效检测与保护方法及其装置,准确判断出故障发生元件是否为可控硅,并通过显示故障信息及自动切断负载供电继电器方式,以方便维修,提高产品安全性能及智能化程度。