简介： 本发明涉及一种失效运算放大器表面态缺陷的检测方法，包括以下步骤：S1：分别对正常运算放大器和失效运算放大器加电，获取两个运算放大器均处于正常工作状态下的端口间的初始漏电流值；S2：对两个运算放大器持续加电，判断两个运算放大器端口间的漏电流值的变化，若正常运算放大器端口间的漏电流值无明显变化，失效运算放大器端口间的漏电流值逐渐增加，则执行S3；S3：对失效运算放大器进行高温贮存，若失效运算放大器端口间的漏电流值恢复到初始漏电流值，执行S4；S4：定位并基于失效运算放大器中的漏电单元，分析并确定运算放大器的失效是否由表面态缺陷所致。与现有技术相比，本发明能够准确定位运算放大器的失效是否由于表面态缺陷所致。