简介:
本发明提出一种SRAM存储器空间服役故障分类失效检测方法,本发明采用故障特征检测诊断空间服役失效故障,通过分析特定核心器件在太空环境或异常环境中的特征参数电源电流的变化,依托神经网络进行故障状态的判断和分类。本发明可用于监控空间服役状态SRAM存储器的特征参数,并在地面计算出SRAM存储器故障失效概率。本发明可结合SRAM存储器空间服役环境,确定故障失效的薄弱环境,可为空间SRAM存储器长寿命服役提供技术支持。
本发明提出一种SRAM存储器空间服役故障分类失效检测方法,本发明采用故障特征检测诊断空间服役失效故障,通过分析特定核心器件在太空环境或异常环境中的特征参数电源电流的变化,依托神经网络进行故障状态的判断和分类。本发明可用于监控空间服役状态SRAM存储器的特征参数,并在地面计算出SRAM存储器故障失效概率。本发明可结合SRAM存储器空间服役环境,确定故障失效的薄弱环境,可为空间SRAM存储器长寿命服役提供技术支持。