简介： 本发明公开了一种高集成型分析物检测系统，包括：底壳；探头结构，探头结构与底壳互相卡合，探头结构包括探头和探头基座，探头包括信号输出端和检测端，信号输出端向靠近探头基座的顶部表面的方向弯曲或弯折，信号输出端表面至少设置两个互相绝缘的第一电连接区；和发射器，发射器与底壳互相卡合，发射器设置有与第一电连接区相对应且互相绝缘的第二电连接区，每个第二电连接区与对应的第一电连接区电连接。内部紧凑的结构使检测系统体积更小，增强了用户体验。