简介： 本发明涉及OLED显示器件的检测领域，尤其涉及一种OLED显示器件失效检测探测系统，包括：混气输入装置，探测器装置，控制器及排气装置。本发明能检测出水汽、氧气、温度、交直流对OLED等薄膜半导体器件效率的影响结果，筛选出有效的封装材料及结构，同时，也可以从气氛、温度、湿度、电流等多角度、全方面地进行故障分析，从而实现OLED显示器件造价低、功能多、使用成本低的特点，进而满足大部分科研及工业生产需要。另，本发明还提供了一种OLED显示器件失效的检测方法。