简介： 本发明公开一种发光二极管失效分析解剖装置，包括操作平台、调温加热台及体视显微镜；操作平台设置加热板，该加热板与调温加热台电连接，加热板加热发光二极管表面封装胶体；操作平台置于体视显微镜的视场范围中。本发明还公开一种发光二极管失效分析解剖方法。本发明可以减少损伤LED芯片，提高失效异常分析的准确性，同时提高LED芯片解剖效率。