简介： 本申请公开了一种芯片失效分析方法、装置、设备及存储介质，从待测芯片的记忆模块中获取所述待测芯片的唯一识别码，根据所述唯一识别码获取预先存储的所述待测芯片的生产信息，根据所述生产信息对所述待测芯片进行失效分析。本方案中，由于保存在芯片记忆模块内的唯一识别码不易丢失和混淆，从而使得芯片失效分析可以顺利进行，满足了客户要求，降低了成本。