简介： 本发明提供一种电子产品失效分析方法,该方法包括如下步骤:从存储装置中获取失效电子产品的失效信息;根据所获取的失效信息进行失效复制验证,以验证所获取的失效信息对应的失效现象能否复制;当所获取的失效信息对应的失效现象不能复制时,对失效电子产品进行测试以判断所述失效电子产品的失效原因是否属于不能复制问题;当所述失效电子产品不属于不能复制问题时,判断所述失效电子产品是否未出故障。