简介： 本发明提供了一种晶体硅光伏电池组件黑片缺陷失效分析方法，包括：步骤1：进行I‑V测试；步骤二，采用电致发光(electroluminescent，EL)测试软件进行EL测试，对晶体硅光伏组件通1‑40mA电流，并采用600W像素的EL相机拍摄组件；步骤三，进行红外线(IR)测试，对晶体硅光伏电池组件通不同的电流，并记录其温度；步骤四，进行反向偏压致发光(ReBEL)测试，对晶体硅光伏电池组件施加一定的反向电压，采用600W像素的EL相机拍摄组件；步骤五，进行显微成像测试，分别进行500倍和3000倍显微成像测试；步骤六，进行能量色散X射线(EDX)测试；步骤七，根据步骤一到步骤六的检测结果对缺陷黑片进行分类；步骤八，对于步骤七确定的缺陷黑片分类分别进行成因确定。