简介： 一种电子设备失效分析方法及系统，用于对电子设备的功能失效原因进行分析，所述方法包括：建立总数据库，所述总数据库包括第一数据库，所述第一数据库内存储待分析电子设备的测试数据，所述测试数据包括待分析电子设备编号、测试名称、测试指令、测试相关的器件以及测试过程中出现的失效记录；图像化显示步骤，根据失效记录对应的测试数据图像化与所述失效现象相关的器件，生成并显示对应的第一图片，所述第一图片包括相关的器件以及所述相关的器件之间的信号收发状况；以及失效原因检查步骤，判断待分析电子设备的失效原因，并根据所述失效原因显示第一图片中造成所述失效现象的器件。