简介:
本实用新型公开了一种便于IC卡失效分析的测试板,包括芯条、测试板本体和背板,所述测试板本体的上表面开设有通槽,且测试板本体的上表面开设有安装孔,所述安装孔共设有四十八个,且四十八个安装孔每二十四个为一组,每组安装孔关于测试板本体的上表面等距分布,所述芯条焊接在测试板本体的上表面位于通槽的一侧外端面,所述芯条共设有四个,且四个芯条关于通槽的上表面呈矩形阵列分布,所述背板焊接在测试板本体的后表面,所述背板采用玻璃制成,且背板采用透明设计。本实用新型便于失效分析,节省大量时间。
本实用新型公开了一种便于IC卡失效分析的测试板,包括芯条、测试板本体和背板,所述测试板本体的上表面开设有通槽,且测试板本体的上表面开设有安装孔,所述安装孔共设有四十八个,且四十八个安装孔每二十四个为一组,每组安装孔关于测试板本体的上表面等距分布,所述芯条焊接在测试板本体的上表面位于通槽的一侧外端面,所述芯条共设有四个,且四个芯条关于通槽的上表面呈矩形阵列分布,所述背板焊接在测试板本体的后表面,所述背板采用玻璃制成,且背板采用透明设计。本实用新型便于失效分析,节省大量时间。