简介： 本发明公开了一种存储器芯片扰码验证方法，包含如下步骤：第一步，选取封装好的样品芯片，根据芯片厚度大小将样品芯片从背面开始研磨；第二步，采用化学腐蚀的方式继续腐蚀样品芯片背面；第三步，对存储区域进行物理损伤并记录物理损伤的物理地址；第四步，对样品芯片背面加保护盖，转移至手动测试机台进行手动测试；第五步，选取2～20颗样品芯片，重复以上步骤，每颗样品芯片测试存储区域的不同位置，找出失效的电学地址，并结合第三步的物理地址计算出物理地址与电学地址之间的对应关系。