再生PECVD设备或DRY ETCH设备腔体中的构件的方法
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再生PECVD设备或DRY ETCH设备腔体中的构件的方法
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简介: 本公开涉及再生PECVD设备或DRY ETCH设备腔体中的构件的方法,该方法包括以下连续步骤:(a)对所述构件的表面进行喷砂处理;(b)用浓度为40‑100g/L的无机酸溶液清洗所述构件的表面;(c)检查所述构件的表面;(d)对所述构件的表面进行激光定点清洗;(e)对所述构件的表面进行超声波清洗;(f)对所述构件的表面进行研磨处理;(g)对所述构件的表面进行喷砂处理;(h)使用干冰对所述构件的表面进行清洗;(i)用酸性或碱性溶液对所述构件的表面进行化学刻蚀;(j)对所述构件的表面进行超声波清洗;(k)对所述构件的表面进行高压清洗;以及(l)干燥所述构件的表面。
本公开涉及再生PECVD设备或DRY ETCH设备腔体中的构件的方法,该方法包括以下连续步骤:(a)对所述构件的表面进行喷砂处理;(b)用浓度为40‑100g/L的无机酸溶液清洗所述构件的表面;(c)检查所述构件的表面;(d)对所述构件的表面进行激光定点清洗;(e)对所述构件的表面进行超声波清洗;(f)对所述构件的表面进行研磨处理;(g)对所述构件的表面进行喷砂处理;(h)使用干冰对所述构件的表面进行清洗;(i)用酸性或碱性溶液对所述构件的表面进行化学刻蚀;(j)对所述构件的表面进行超声波清洗;(k)对所述构件的表面进行高压清洗;以及(l)干燥所述构件的表面。
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标签:化学分析
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