简介： 本发明涉及沉积膜的致密性的表征方法及电池片的制造方法，其中，表征方法包括如下步骤：步骤S1，提供测试片，测试片的正面的面积为S，且质量为M；步骤S2，在测试片上沉积沉积膜，测定沉积膜的厚度d，且沉积有沉积膜的测试片的质量M’；步骤S3，基于面积S以及厚度d，得到沉积膜的体积为V，并基于质量M以及M’，得到沉积膜的质量⊿M；步骤S4，根据沉积膜的质量⊿M与沉积膜的体积为V，得到沉积膜的密度ρ，基于密度ρ评价沉积膜的致密性。该表征方法用于评价电池片上沉积的减反射层的致密性，避免了使用化学溶液，从而保证了操作的安全，降低了电池片上沉积的减反射层的致密性的评价的成本，且大大提高了减反射层的致密性的评价的效率。