简介： 本发明涉及一种基于绝缘隔板优化的开关柜绝缘水平提升方法，其特点是：制作绝缘隔板样片，测量样片表面原子种类、含量和化学键占比，建立隔板分子结构模型并进行优化，计算隔板样片分子的带隙宽度及电子亲和势，在隔板分子最优结构模型中添加特定元素，再次优化分子结构模型，构建宽散射截面和高逸出势垒的低二次电子发射系数表面结构，采用离子溅射、真空蒸镀和化学刻蚀处理，进一步改性绝缘隔板。本发明设计合理，其通过合理修饰隔板表面状态，可提升开关柜在高温、高湿、凝露和污秽环境下的绝缘水平，为提高电力装备绝缘水平和运行可靠性提供理论依据和实践方法。