简介： 公开了一种用于准确地成像化学发光和其他发光的系统、装置和方法。具有不透光的壳体、一个或多个线性电荷耦合器件(CCD)或互补金属氧化物半导体(CMOS)成像芯片的检测器条以及高工作数值孔径(NA)光学元件的紧凑型平板扫描仪在一个方向上并且随后在相反的方向上近距离扫描样本。将对于两遍或更多遍之间的每一个像素位置(x，y)的强度读数的平均值和其他组合一起求平均以便补偿随时间变化的发光。片上像素分区和多个时钟频率可以用来最大化基于CCD的扫描仪的信噪比。