简介： 本发明涉及一种基于分子层面的岩石微观结构和性质的研究方法，包括以下步骤：先通过X射线衍射试验获得岩石的主要矿物成分，从而获得岩石主要矿物成分的晶体结构；然后计算主要矿物晶体的化学键参数并对计算结果进行分析和验证，计算矿物晶体的弹性参数并对计算结果进行分析和验证；再根据矿物晶体化学键和弹性参数进行相关性分析。本发明提供的研究方法从分子层面研究岩石的微观特性，为揭示岩石宏观物理力学性质的微观本质机理提供理论依据。研究结果不仅为岩石工程、边坡加固工程提供理论支撑，同时对石质文物保护具有重要意义。