简介： 本发明属于一种基于发射率光谱指数模型定量反演岩石SiO₂含量的方法，具体包括：一、岩石发射率光谱测量，获取岩石样本发射率曲线；二、岩石样品SiO₂含量室内定量化学分析；三、表征岩石SiO₂含量诊断波长选取和光谱指数构建；四、构建岩石样品SiO₂含量发射率光谱指数定量反演模型；五、岩石样品SiO₂含量定量反演模型精度评价。通过主观和客观评价得出该模型反演精度优于90％，可用于野外快速准确的识别岩石SiO₂含量，大大降低了岩石SiO₂含量室内化学分析的时间和经济成本，这对加快与硅化、石英脉相关的矿产勘查进度具有重要的推动意义。