简介： 本发明公开了一种低温制备Ag电极测试BZT陶瓷的方法，先按BaZr_0.2Ti_0.8O₃的化学计量比，称取原料BaCO₃、ZrO₂和TiO₂，于1350℃烧制成BZT陶瓷；将BZT陶瓷制品放入磁控溅射制品台上，装上金属银靶材，将磁控溅射系统的本底真空度抽至P＜1.0×10^‑3Pa，使用Ar作为溅射气体，直流溅射电流为100～400mA，沉积时间为1500～7200s，在BZT陶瓷制品表面沉积得到厚度为1～4μm的Ag电极，再利用砂纸打磨Ag包覆层，即制得用于测试BZT陶瓷的Ag电极。本发明不需热处理，低温制备，且制备工艺简单，具有良好的应用前景。