简介:
一种导波雷达水平面测量设备包括由外导体和中心导体组成的过程连接件。所述中央导体至少部分由介电材料环绕。可采用一个或多个弹性金属密封件来在所述探头的一部分周围形成气密密封。所述金属密封件保护所述介电材料,以使所述气密密封与过程和温度冲击隔离。所述金属密封件可进一步与一个或多个绝缘体和一个或多个垫片配合,所述金属密封件用以提供热和机械屏障并向所述导波雷达水平面测量装置提供耐化学性。
一种导波雷达水平面测量设备包括由外导体和中心导体组成的过程连接件。所述中央导体至少部分由介电材料环绕。可采用一个或多个弹性金属密封件来在所述探头的一部分周围形成气密密封。所述金属密封件保护所述介电材料,以使所述气密密封与过程和温度冲击隔离。所述金属密封件可进一步与一个或多个绝缘体和一个或多个垫片配合,所述金属密封件用以提供热和机械屏障并向所述导波雷达水平面测量装置提供耐化学性。