简介:
本发明属于半导体光电化学技术领域,具体为一种测定半导体电极光催化制氢活性的方法。该方法使用恒电位仪和带有石英窗口的电解池,以半导体电极作为工作电极,金属PT片作为对电极,把电极放入电解池中,由导线把工作电极与恒电位相连,恒电位仪的参比电极和对电极同时连接金属PT电极,控制工作电极相对于对电极的电位为0V;利用白光或紫光照射工作电极,激发电子产生光电流,该电流大小代表了外电路的光生电子的多少。本发明方法简单,测量精度高。
本发明属于半导体光
电化学技术领域,具体为一种测定半导体电极光催化制氢活性的方法。该方法使用恒电位仪和带有石英窗口的电解池,以半导体电极作为工作电极,金属PT片作为对电极,把电极放入电解池中,由导线把工作电极与恒电位相连,恒电位仪的参比电极和对电极同时连接金属PT电极,控制工作电极相对于对电极的电位为0V;利用白光或紫光照射工作电极,激发电子产生光电流,该电流大小代表了外电路的光生电子的多少。本发明方法简单,测量精度高。