简介： 本发明涉及一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法，它基于自发辐射荧光光谱技术，是一种利用直线作图法同时测量HF分子转动温度和振动能级粒子数分布的新方法。本发明主要应用于HF化学激光测试诊断技术领域，可以同时测量转动温度和振动粒子数分布，只需要将HF基频自发辐射荧光光谱各个振转谱带的P支谱线强度进行简单的处理之后作图即可，具有简单方便、直观准确、非侵入性等特点。利用本发明，可以实现HF化学激光器中转动温度和振动激发态各个能级粒子数分布的同时快速测量。